シラバス情報

教員名 ： 国村　伸祐
科目授業名称（和文）　Name of the subject/class (in Japanese)
無機・分析化学特論１
科目授業名称（英文）　Name of the subject/class (in English)
Advanced Inorganic/Analytical Chemistry1
授業コード　Class code
994CD01
科目番号　Course number
42CHIAC501

教員名
国村　伸祐
Instructor
Shinsuke Kunimura

開講年度学期
2026年度後期
Year
2026年度
Semester
②Second semester
曜日時限
木曜2限
Class hours
Thursday 2nd Period

開講学科・専攻　Department
工学研究科　工業化学専攻

Department of Industrial Chemistry, Graduate School of Engineering
単位数　Course credit
2.00単位
授業の方法　Teaching method
講義 Lecture
外国語のみの科目（使用言語）　Course in only foreign languages (languages)
-
授業の主な実施形態　Main class format
① [対面]対面授業/ [On-site] On-site class

概要　Description
本講義ではX線の性質，蛍光X線分析法，全反射蛍光X線分析法，およびX線光源やX線検出器のような装置構成要素について説明する。また，測定値の取り扱いについても説明する。

In this lecture, properties of X-rays, principles and applications of X-ray fluorescence (XRF) analysis and total reflection X-ray fluorescence (TXRF) analysis, principles of components of XRF and TXRF spectrometers, and handling of measured values will be explained.
目的　Objectives
X線の性質，蛍光X線分析法や全反射蛍光X線分析法の原理と応用，測定値の取り扱い方について理解を深めることを目的とする。

We aim to acquire the following knowledge: 1) properties of X-rays; 2) principles and applications of X-ray fluorescence (XRF) analysis and total reflection X-ray fluorescence (TXRF) analysis; and 3) handling of measured values.
到達目標　Outcomes
X線を用いた元素分析を行うために必要となるさまざまな知識を身に付けることができる。

The knowledge of methods for elemental analysis using X-rays will be acquired.
卒業認定・学位授与の方針との関係（学部科目のみ）
履修上の注意　Course notes prerequisites
授業は日本語で行う．

Lectures will be conducted in Japanese.
アクティブ・ラーニング科目　Teaching type（Active Learning）
プレゼンテーション　Presentation
-

準備学習・復習　Preparation and review
必要に応じて指示する．

Instructions will be given as needed.
成績評価方法　Performance grading policy
中間レポート：50%，プレゼンテーション：50%

Internal report: 50%, Presentation: 50%
学修成果の評価　Evaluation of academic achievement
・S：到達目標を十分に達成し、極めて優秀な成果を収めている
・A：到達目標を十分に達成している
・B：到達目標を達成している
・C：到達目標を最低限達成している
・D：到達目標を達成していない
・-：学修成果の評価を判断する要件を欠格している

・S：Achieved outcomes, excellent result
・A：Achieved outcomes, good result
・B：Achieved outcomes
・C：Minimally achieved outcomes
・D：Did not achieve outcomes
・-：Failed to meet even the minimal requirements for evaluation

教科書　Textbooks/Readings
教科書の使用有無（有=Y , 無=N）　Textbook used(Y for yes, N for no)
N
書誌情報　Bibliographic information
-
MyKiTSのURL（教科書販売サイト）　URL for MyKiTS(textbook sales site)
教科書および一部の参考書は、MyKiTS (教科書販売サイト) から検索・購入可能です。
​https://gomykits.kinokuniya.co.jp/tokyorika/​​​

It is possible to search for and purchase textbooks and certain reference materials at MyKiTS (online textbook store).
​​https://gomykits.kinokuniya.co.jp/tokyorika/

参考書・その他資料　Reference and other materials
必要に応じて紹介する。

Reference materials will be introduced as needed.

授業計画　Class plan
第1回：X線の性質　X線の性質を理解する。
第2回：X線の発生原理　X線管の構造を理解する。
第3回：高強度X線光源　シンクロトロン放射光のような高強度X線光源を理解する。
第4回： 簡易X線発生源　簡易X線発生源について理解する。
第5回：X線検出器　主に半導体検出器について理解する。
第6回：蛍光X線分析法 (1)　蛍光X線分析法の原理を理解する。
第7回：蛍光X線分析法 (2)　蛍光X線分析法による元素イメージング法を理解する。
第8回：蛍光X線分析法 (3)　蛍光X線分析法による化学状態分析法を理解する。
第9回：全反射蛍光X線分析法 (1)　X線の全反射を利用する蛍光X線分析法の原理を理解する。
第10回：全反射蛍光X線分析法 (2)　斜入射蛍光X線分析法を理解する。
第11回：蛍光X線分析法と全反射蛍光X線分析法の応用　蛍光X線分析法と全反射蛍光X線分析法がどのような分析に応用されているか理解する。
第12回：ポータブル蛍光X線分析装置およびポータブル全反射蛍光X線分析装置　近年開発が進んでいるポータブル分析装置とその重要性について理解する。
第13回：測定結果の取り扱い　測定結果の取り扱い方を理解する。
第14回，15回：プレゼンテーション　蛍光X線分析法や全反射蛍光X線分析法の新規応用法を提案する。

1st: Properties of X-rays
Properties of X-rays will be understood.
2nd: Generation of X-rays
The knowledge of X-ray tube will be acquired.
3rd: High power X-ray source
The knowledge of high power X-ray source such as synchrotron radiation will be acquired.
4th: Handy X-ray source
The knowledge of handy X-ray source will be acquired.
5th: X-ray detector
The knowledge of energy-dispersive X-ray detector will be acquired.
6th: X-ray fluorescence (XRF) analysis
The knowledge of XRF analysis will be acquired.
7th: XRF imaging
A method for obtaining 2D elemental imaging using XRF analysis will be understood.
8th: Chemical state analysis using XRF analysis
A method for analysis of chemical states using XRF analysis will be understood.
9th: Total reflection X-ray fluorescence (TXRF) analysis
The knowledge of TXRF analysis will be acquired.
10th: Grazing incidence X-ray fluorescence analysis
The knowledge of grazing incidence X-ray fluorescence analysis will be acquired.
11th: Applications of XRF analysis and TXRF analysis
The knowledge of XRF analysis and TXRF analysis will be acquired.
12th: Portable XRF and TXRF spectrometers
The knowledge of various portable XRF and TXRF spectrometers will be acquired.
13th: Handling of measured values
The knowledge of handling of measured values will be acquired.
14th and 15th: Presentation by students
Students make presentations about applications of XRF analysis and TXRF analysis proposed by them. The presentation time will be about 5 min for each student.

担当教員の実務経験とそれを活かした教育内容　Work experience of the instructor
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教育用ソフトウェア　Educational software
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備考　Remarks

授業でのBYOD PCの利用有無　Whether or not students may use BYOD PCs in class
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授業での仮想PCの利用有無　Whether or not students may use a virtual PC in class
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