物性評価技術特論｜シラバス情報

科目授業名称（和文）　Name of the subject/class (in Japanese)

物性評価技術特論

科目授業名称（英文）　Name of the subject/class (in English)

Evaluating Technology for MaterialProperties

授業コード　Class code

994D17J

科目番号　Course number

43ELPRS501

教員名

安藤　靜敏

Instructor

Shizutoshi ANDO

開講年度学期

2024年度前期

Year/Semester

2024/1st

曜日時限

火曜5限

Class hours

開講学科・専攻　Department

工学研究科　電気工学専攻

Department of Electrical Engineering, Graduate School of Engineering

単位数　Course credit

2.0単位

授業の方法　Teaching method

講義

Lecture

外国語のみの科目（使用言語）　Course in only foreign languages (languages)

-

授業の主な実施形態　Main class format

① [対面]対面授業/ [On-site] On-site class

概要　Description

材料および電子デバイスの物性（特性）を評価するために必要な様々な測定方法（結晶学的、電気的、光学的、熱的など評価法）の原理を理解する。更に、測定データの解析を習得することができる。

目的　Objectives

到達目標　Outcomes

卒業認定・学位授与の方針との関係（学部科目のみ）

リンク先の [評価項目と科目の対応一覧]から確認できます（学部対象）。
履修登録の際に参照ください。
You can check this from “Correspondence table between grading items and subjects” by following the link(for departments).
https://www.tus.ac.jp/fd/ict_tusrubric/

履修上の注意　Course notes prerequisites

特に無し

アクティブ・ラーニング科目　Teaching type（Active Learning）

-

準備学習・復習　Preparation and review

講義前に予習・復習は行うこと。

成績評価方法　Performance grading policy

出席（20％）、レポート（20％）および試験（60％）にて評価する。

学修成果の評価　Evaluation of academic achievement

・S：到達目標を十分に達成し、極めて優秀な成果を収めている
・A：到達目標を十分に達成している
・B：到達目標を達成している
・C：到達目標を最低限達成している
・D：到達目標を達成していない
・-：学修成果の評価を判断する要件を欠格している

・S：Achieved outcomes, excellent result
・A：Achieved outcomes, good result
・B：Achieved outcomes
・C：Minimally achieved outcomes
・D：Did not achieve outcomes
・-：Failed to meet even the minimal requirements for evaluation

教科書　Textbooks/Readings

教科書の使用有無（有=Y , 無=N）　Textbook used(Y for yes, N for no)

N

書誌情報　Bibliographic information

-

MyKiTSのURL（教科書販売サイト）　URL for MyKiTS(textbook sales site)

教科書および一部の参考書は、MyKiTS (教科書販売サイト) から検索・購入可能です。
https://mirai.kinokuniya.co.jp/tokyorika/

It is possible to search for and purchase textbooks and certain reference materials at MyKiTS (online textbook store).
https://mirai.kinokuniya.co.jp/tokyorika/

参考書・その他資料　Reference and other materials

無し

授業計画　Class plan

1 　　結晶学的評価（１）　　結晶の評価、Ｘ線回折法（ラウエ法、ディフラクトメーター
　　　　法など）

2 　　結晶学的評価（２）　　電子線回折法（ＬＥＥＤ、ＲＨＥＥＤなど）

3 　　結晶学的評価（３）　　表面および断面の形態観察　電子顕微鏡（ＳＥＭ、ＴＥＭ、
　　　　ＳＴＭ）

4 　　結晶学的評価（４）　　化学組成分析法（ＥＰＭＡ、ＥＤＸ、ＷＤＸなど）

5 　　電気的評価（１）　　電気抵抗率、電気容量、誘電特性

6 　　電気的評価（２）　　ホール効果による材料の評価その１

7 　　電気的評価（３）　　ホール効果による材料の評価その２

8 　　電気的評価（４）　　強誘電特性

9 　　光学的評価（１）　　光の反射・透過・吸収

10　　光学的評価（２）　　ラマン散乱法、赤外線吸収分析法（FT-IR)

11　　光学的評価（３）　　フォトルミネッセンス法

12　　光学的評価（４）　　光電子分光法、オージェ電子分光法など

13　　熱学的評価　　示唆熱分析法

14　　その他の評価（１）磁気的評価など

15　　その他の評価（２）　薄膜の諸評価法

授業担当者の実務経験　Work experience of the instructor of the class

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教育用ソフトウェア　Educational software

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備考　Remarks

特に無し

授業でのBYOD PCの利用有無　Whether or not students may use BYOD PCs in class

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授業での仮想PCの利用有無　Whether or not students may use a virtual PC in class

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